原子力顯微鏡(AFM)通過一根小小的探針來間接地感知物體表面結(jié)構(gòu),得到樣品表面的三維相貌圖象,并可對三維形貌圖象進行粗糙度計算、厚度、步寬、方框圖或顆粒度分析。
AFM廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)中,是一種非常重要的表面表征技術(shù)。除了進行形貌觀察,AFM還可以用來測量物質(zhì)和材料表面原子間的作用力、表面彈性、塑性、硬度、粘著力、摩擦力等性質(zhì)。
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